成都SEM+EDS掃描電鏡能譜分析 微觀形貌觀察ZEISS

掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;并且景深大, 視野大, 成像立體效果好。此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合, 可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。因此掃描電子顯微鏡在科學研究領域具有重大作用。

電鏡的分類：

1、掃描電子顯微鏡，簡稱SEM,其應用范圍主要是材料形貌，組織觀察；

2、透射電子顯微鏡，簡稱TEM,其主要的應用范圍為觀察納米粒子的形貌、評估納米粒子的粒徑；

3、SEM-EDS聯用測定儀，簡稱SEM-EDS，其主要應用范圍為材料形貌，組織觀察。元素定性半定量分析，針對粉末或者較小的固體樣品，可以進行點、線、面掃描測試。

本公司可提供專業掃描電鏡測試，包括SEM測試、場發射檢測服務。